NanoScan2s狹縫掃描光束分析儀

掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測量技術(shù)，通過狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過單點光電探測器測量強(qiáng)度，再通過掃描狹縫 / 小孔的位置，復(fù)原整個光斑的分布。

掃描式光束分析儀的優(yōu)點 : 

取樣尺度可以到微米量級，遠(yuǎn)小于 CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大；

• 采用單點探測器，適應(yīng)紫外 ~ 中遠(yuǎn)紅外寬范圍波段；

單點探測器具備很高的動態(tài)范圍，一個探頭可同時適應(yīng)弱光和強(qiáng)光分析。

掃描式光束分析儀的缺點 :  

• 多次掃描重構(gòu)光束分布，不適合輸出不穩(wěn)定的激光；

• 不適合非典型分布的激光，近場光斑有熱斑、有條紋等的狀況。

掃描式光束分析儀與相機(jī)式光束分析儀是互補(bǔ)關(guān)系而非替代關(guān)系；在很多應(yīng)用，如小光斑測量（焦點測量）、紅外高分辨率光束分析等方面，掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢。

特點和功能

·可測量連續(xù)激光以及大于 1kHz 重頻的脈沖激光·取樣間隔可以調(diào)節(jié)小到 5.7nm，使其能夠極其精確地測量非常小的光斑，

·可顯示 2D/3D 光斑形貌

·掃描速度可調(diào)諧

·16 位數(shù)字化信號采集，35dB 高動態(tài)范圍，20Hz最刷新頻率·支持用戶進(jìn)行二次開發(fā)，便于集成

·探頭可添加功率計選項

硅、鍺和熱釋電探測器可選，測量范圍可覆蓋很寬的光譜范圍和功率級別

·不加衰減就可以測量較高功率或焦點處光斑·所有的 NanoScan 的校準(zhǔn)都可以朔源 NIST 標(biāo)準(zhǔn)以確保最終的精度·符合國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/DIN11146及IS013694。(1989~1996 年P(guān)hoton 公司主持了 ISO/DIN 委員會的工作，制訂出了ISO/DIN11146 標(biāo)準(zhǔn))

軟件功能 :

NanoScan 提供 Standard 與 Professional 兩種功能版本